品来袭 | 玉树蔡司玉树X射线显微镜 Xradia 515 Versa 新品正式发布

　　蔡司X射线显微镜Xradia 515 Versa正式推出。蔡司上海客户演示中心Xradia 515 Versa演示机器也安装完成，正式启用。

　　蔡司Xradia 510/520 Versa产品于2011年上市，历经近10年的时间考验，该系列产品已广泛应用在科研和工业检测领域，它以其先进技术特点、稳定的产品性能成为了广大用户所青睐的经典款产品。今天我们推出新款Xradia 515 Versa X射线显微镜，保持先进的大样品高分辨率技术优势的同时，还可实现高达500 nm空间分辨率。该产品通过使用更高分辨率的光学元件，实现分辨率的改善和突破。与此同时，该产品还加入了更多的智能元素，并且具有更广阔的拓展能力。

　　500nm空间分辨率线对卡测试结果

　　在分辨率方面的改进与大样品高分辨率(RaaD)成像技术的结合，保证了Xradia 515 Versa可对各种类型和尺寸的样品实现高分辨率成像。Xradia 515 Versa产品引入了智能防撞系统Smartshield，让操作更加智能、安全。计算机工作站配备上的升级也将大大提升了数据处理能力。此外，Xradia 515 Versa系统还可进行扩展和升级，包括原位接口、4D原位试验平台、迭代重构、自动进样装置、平板探测器等多个拓展模块。结合蔡司Xradia平台的灵活性和稳定性，该产品出色的多功能、多应用领域特点将为您的研究工作快速的提供分析成果。